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zklhxz
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樓主  發(fā)表于: 2018-05-17 16:48
目前市面的二次元測(cè)量?jī)x、三次元測(cè)量?jī)x、測(cè)量投影儀與五次元一鍵式測(cè)量?jī)x的區(qū)別???  
    
現(xiàn)在市場(chǎng)的影像尺寸測(cè)量?jī)x,有三次元測(cè)量?jī)x、二次元測(cè)量?jī)x和測(cè)量投影儀。而二次元測(cè)量?jī)x跟測(cè)量投影儀難以區(qū)別,都是光學(xué)檢測(cè)儀器,在結(jié)構(gòu)和原 理上二次元測(cè)量?jī)x通常是連接PC電腦上同時(shí)連同軟件一起進(jìn)行操作,精度在0.002MM以內(nèi),測(cè)量投影儀內(nèi)部是自帶微型電腦的,因此不需要再連接電腦,但在精度上卻沒(méi)有二次元測(cè)量?jī)x那么精準(zhǔn),影像測(cè)量?jī)x精度一般只能達(dá)0.01MM以內(nèi)。三次元測(cè)量?jī)x是在二次元測(cè)量的基礎(chǔ)上加一個(gè)超聲測(cè)量或紅外測(cè)量探頭,用于測(cè)量被測(cè)物體的厚度以及盲孔深度等,這些往往二次元測(cè)量?jī)x無(wú)法測(cè)量,但三次元測(cè)量?jī)x也有一定的缺陷:
Ø 測(cè)高探頭采用接觸法測(cè)量,無(wú)法測(cè)量部分表面不 能接觸的物體;
Ø 探頭工作時(shí),需頻繁移動(dòng)座標(biāo),檢測(cè)速度慢;
Ø 因探頭有一定大小,因些無(wú)法測(cè)量過(guò)小內(nèi)徑的盲孔;
Ø 探頭因采用接觸法測(cè)量,而接觸面有一 定寬度,當(dāng)檢測(cè)凹凸不平表面時(shí),測(cè)量值會(huì)有較大誤差,同時(shí)一般測(cè)量范圍都較小。
     光纖同軸位移傳感器以非接觸方式測(cè)量高度和厚度,解決了過(guò)去三角測(cè)距方式中無(wú)法克服的誤差問(wèn)題,因此開(kāi)發(fā)出可以同軸共焦非接觸式一鍵測(cè)量的3D輪廓測(cè)量設(shè)備成為亟待解決的熱點(diǎn)問(wèn)題。
      
   針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)的上述不足,提供五次元測(cè)量設(shè)備及其測(cè)量計(jì)算方法,具有可以非接觸檢測(cè)、更高分辨率、檢測(cè)速率更快、一鍵式測(cè)量、更高精度等優(yōu)點(diǎn)。五次元測(cè)量?jī)x通過(guò)采用大理石做為檢測(cè)平臺(tái)和基座,可獲得更高的穩(wěn)定性;內(nèi)置軟件的自動(dòng)分析,可一鍵式測(cè)量,只需按一個(gè)啟動(dòng)鍵,既可完成尺寸測(cè)量,使用方便;采有非接觸式光譜共焦測(cè)量具有快速、高精度、可測(cè)微小孔、非接觸等優(yōu)點(diǎn),可測(cè)量Z軸高度,解決測(cè)高探頭接觸對(duì)部分產(chǎn)品造成損傷的問(wèn)題;大市場(chǎng)光學(xué)系統(tǒng)可一次拍取整個(gè)工件圖像,可使檢測(cè)精度更高,速度更快。并且可以概據(jù)客戶需要,進(jìn)行自動(dòng)化擴(kuò)展,配合機(jī)械手自動(dòng)上下料,完全可做到無(wú)人化,并可進(jìn)行 SPC 過(guò)程統(tǒng)計(jì)。為客戶提供高精度檢測(cè)的同時(shí),概據(jù) SPC 統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù),實(shí)時(shí)對(duì)生產(chǎn)數(shù)據(jù)調(diào)整, 提高產(chǎn)品質(zhì)量,節(jié)約成本。